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学科主题: 放射医学
题名:
弱视儿童的MRI全脑皮层厚度分析
其他题名: Measuring the cortical thickness with MRI in children with amblyopia
作者: 谢晟1; 江界峰1; 叶锦棠1; 肖江喜1; 刘海华1; 蒋田仔1
关键词: 弱视 ; 皮层厚度 ; 磁共振成像
刊名: 中国医学影像技术
发表日期: 2009
DOI: 10.3321/j.issn:1003-3289.2009.04.019
卷: 25, 期:4, 页:588-590
收录类别: 中国科技核心期刊 ; 中文核心期刊 ; CSCD
文章类型: Journal Article
摘要: 目的 利用皮层厚度分析技术探讨弱视患儿脑灰质发育的异常.方法 对11例弱视患儿和10名视力正常儿童行3D T1WI扫描,数据应用Freesurfer软件进行后处理,以双样本独立t检验进行病例组和对照组的全脑皮层厚度比较,将具有统计学意义(P<0.05)的像素在标准脑模板上生成伪彩图.选取像素阈值为500个相邻像素,分析弱视患者皮层厚度改变的区域.结果 弱视组在双侧中央前回、左侧距状回前部、左侧颞上回和右侧额中回、额上回皮层厚度大于对照组;而在双侧舌回、枕颞外侧回、顶上小叶的区域,对照组皮层厚度大于弱视组.结论 皮层厚度分析研究能够发现弱视患儿与视觉相关的大脑区域的灰质皮层发育异常,从而为探讨弱视相关的神经结构发育异常提供有用信息.
语种: 中文
原文出处: 查看原文
Citation statistics:
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.bjmu.edu.cn/handle/400002259/42258
Appears in Collections:北京大学第一临床医学院_放射治疗科_期刊论文

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作者单位: 1.北京大学第一医院放射科,北京,100034
2.中国科学院自动化研究所,北京,100080
3.北京大学第一医院眼科,北京,100034
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